Krauskopf, J. (1989). Quantitative Bestimmung von Fremdelementen und Verteilung derselben in Si und GaAs Halbleitermaterialien mittels nuklearer Analysemethoden.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Krauskopf, Jörg. Quantitative Bestimmung Von Fremdelementen Und Verteilung Derselben in Si Und GaAs Halbleitermaterialien Mittels Nuklearer Analysemethoden. 1989.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Krauskopf, Jörg. Quantitative Bestimmung Von Fremdelementen Und Verteilung Derselben in Si Und GaAs Halbleitermaterialien Mittels Nuklearer Analysemethoden. 1989.
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