Einfluß von Fremdphasen auf das Ausscheidungsverhalten von Eisen während der Reduktion von Eisenoxid: In-Situ-Untersuchungen in einem Reduktions-Rasterelektronenmikroskop
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Bibliographic Details
Main Author: Gebel, Ulf Johannes (Author)
Format: Book
Language:German
Published: 1989
Subjects:
Item Description:Aachen, Techn. Hochsch., Diss.
Physical Description:150, 47 S. graph. Darst.

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