Die Alterung bei N-Kanal-MOS-Transistoren unter dem Einfluß hochenergetischer Ladungsträger, der Hot-Electron-Effekt:
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| Format: | Book |
| Language: | German |
| Published: |
Düsseldorf
VDI-Verl.
1988
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| Edition: | Als Ms. gedr. |
| Series: | Verein Deutscher Ingenieure: Fortschrittberichte VDI / 9
81 |
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| Item Description: | Zugl.: Dortmund, Univ., Diss., 1988 |
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