Die Alterung bei N-Kanal-MOS-Transistoren unter dem Einfluß hochenergetischer Ladungsträger, der Hot-Electron-Effekt:
Gespeichert in:
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| Format: | Buch |
| Sprache: | German |
| Veröffentlicht: |
Düsseldorf
VDI-Verl.
1988
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| Ausgabe: | Als Ms. gedr. |
| Schriftenreihe: | Verein Deutscher Ingenieure: Fortschrittberichte VDI / 9
81 |
| Schlagworte: | |
| Beschreibung: | Zugl.: Dortmund, Univ., Diss., 1988 |
| Beschreibung: | 115 S. graph. Darst. |
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