Proceedings: May 16 - 17, 1980, Toronto, Ontario, Canada
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Körperschaft: Canadian Reliability Symposium Toronto (VerfasserIn)
Format: Tagungsbericht Buch
Sprache:Undetermined
Veröffentlicht: Oxford (u.a.) Pergamon Pr. 1980
Schriftenreihe:Microelectronics and reliability.20,1.2.
Schlagworte:
Beschreibung:917 S. Ill., graph. Darst.

Es ist kein Print-Exemplar vorhanden.

Fernleihe Bestellen Achtung: Nicht im THWS-Bestand!