(1981). Optical characterization techniques for semiconductor technology: April 1 - 2, 1981, San Jose, Calif (2. print.).
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Optical Characterization Techniques for Semiconductor Technology: April 1 - 2, 1981, San Jose, Calif. 2. print. Bellingham, Washington, USA, 1981.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Optical Characterization Techniques for Semiconductor Technology: April 1 - 2, 1981, San Jose, Calif. 2. print. 1981.
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