Untersuchung der Oberflächenzustände der Si(001)-Fläche mit der Kelvin-Methode:
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| Main Author: | |
|---|---|
| Format: | Book |
| Language: | Undetermined |
| Published: |
Jülich
Zentralbibl. d. Kernforschungsanl. Jülich GmbH
1988
|
| Edition: | Als Ms. gedr. |
| Series: | Berichte der Kernforschungsanlage Jülich
2177 |
| Subjects: | |
| Item Description: | Zsfassung in engl. Sprache. - Zugl.: Düsseldorf, Univ., Diss. |
| Physical Description: | 103 S. graph. Darst. |
Staff View
MARC
| LEADER | 00000nam a2200000 cb4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | BV002069578 | ||
| 003 | DE-604 | ||
| 005 | 20060310 | ||
| 007 | t | ||
| 008 | 890928s1988 d||| m||| 00||| und d | ||
| 035 | |a (OCoLC)631857102 | ||
| 035 | |a (DE-599)BVBBV002069578 | ||
| 040 | |a DE-604 |b ger |e rakddb | ||
| 041 | |a und | ||
| 049 | |a DE-91 | ||
| 084 | |a PHY 701d |2 stub | ||
| 084 | |a PHY 690d |2 stub | ||
| 100 | 1 | |a Reese, Elisabeth |e Verfasser |4 aut | |
| 245 | 1 | 0 | |a Untersuchung der Oberflächenzustände der Si(001)-Fläche mit der Kelvin-Methode |
| 246 | 1 | 3 | |a Reportnr. Jül 2177 |
| 250 | |a Als Ms. gedr. | ||
| 264 | 1 | |a Jülich |b Zentralbibl. d. Kernforschungsanl. Jülich GmbH |c 1988 | |
| 300 | |a 103 S. |b graph. Darst. | ||
| 336 | |b txt |2 rdacontent | ||
| 337 | |b n |2 rdamedia | ||
| 338 | |b nc |2 rdacarrier | ||
| 490 | 0 | |a Berichte der Kernforschungsanlage Jülich |v 2177 | |
| 500 | |a Zsfassung in engl. Sprache. - Zugl.: Düsseldorf, Univ., Diss. | ||
| 650 | 0 | 7 | |a Oberfläche |0 (DE-588)4042907-6 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 650 | 0 | 7 | |a Fotospannung |0 (DE-588)4252194-4 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 650 | 0 | 7 | |a Silicium |0 (DE-588)4077445-4 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 650 | 0 | 7 | |a Elektronenstruktur |0 (DE-588)4129531-6 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 655 | 7 | |0 (DE-588)4113937-9 |a Hochschulschrift |2 gnd-content | |
| 689 | 0 | 0 | |a Silicium |0 (DE-588)4077445-4 |D s |
| 689 | 0 | 1 | |a Oberfläche |0 (DE-588)4042907-6 |D s |
| 689 | 0 | 2 | |a Elektronenstruktur |0 (DE-588)4129531-6 |D s |
| 689 | 0 | |5 DE-604 | |
| 689 | 1 | 0 | |a Fotospannung |0 (DE-588)4252194-4 |D s |
| 689 | 1 | 1 | |a Oberfläche |0 (DE-588)4042907-6 |D s |
| 689 | 1 | 2 | |a Silicium |0 (DE-588)4077445-4 |D s |
| 689 | 1 | |8 1\p |5 DE-604 | |
| 999 | |a oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-001353560 | ||
| 883 | 1 | |8 1\p |a cgwrk |d 20201028 |q DE-101 |u https://d-nb.info/provenance/plan#cgwrk | |
Record in the Search Index
| _version_ | 1804116519933706240 |
|---|---|
| any_adam_object | |
| author | Reese, Elisabeth |
| author_facet | Reese, Elisabeth |
| author_role | aut |
| author_sort | Reese, Elisabeth |
| author_variant | e r er |
| building | Verbundindex |
| bvnumber | BV002069578 |
| classification_tum | PHY 701d PHY 690d |
| ctrlnum | (OCoLC)631857102 (DE-599)BVBBV002069578 |
| discipline | Physik |
| edition | Als Ms. gedr. |
| format | Book |
| fullrecord | <?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?><collection xmlns="http://www.loc.gov/MARC21/slim"><record><leader>01755nam a2200481 cb4500</leader><controlfield tag="001">BV002069578</controlfield><controlfield tag="003">DE-604</controlfield><controlfield tag="005">20060310 </controlfield><controlfield tag="007">t</controlfield><controlfield tag="008">890928s1988 d||| m||| 00||| und d</controlfield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(OCoLC)631857102</subfield></datafield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(DE-599)BVBBV002069578</subfield></datafield><datafield tag="040" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-604</subfield><subfield code="b">ger</subfield><subfield code="e">rakddb</subfield></datafield><datafield tag="041" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">und</subfield></datafield><datafield tag="049" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-91</subfield></datafield><datafield tag="084" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">PHY 701d</subfield><subfield code="2">stub</subfield></datafield><datafield tag="084" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">PHY 690d</subfield><subfield code="2">stub</subfield></datafield><datafield tag="100" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">Reese, Elisabeth</subfield><subfield code="e">Verfasser</subfield><subfield code="4">aut</subfield></datafield><datafield tag="245" ind1="1" ind2="0"><subfield code="a">Untersuchung der Oberflächenzustände der Si(001)-Fläche mit der Kelvin-Methode</subfield></datafield><datafield tag="246" ind1="1" ind2="3"><subfield code="a">Reportnr. Jül 2177</subfield></datafield><datafield tag="250" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">Als Ms. gedr.</subfield></datafield><datafield tag="264" ind1=" " ind2="1"><subfield code="a">Jülich</subfield><subfield code="b">Zentralbibl. d. Kernforschungsanl. Jülich GmbH</subfield><subfield code="c">1988</subfield></datafield><datafield tag="300" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">103 S.</subfield><subfield code="b">graph. Darst.</subfield></datafield><datafield tag="336" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">txt</subfield><subfield code="2">rdacontent</subfield></datafield><datafield tag="337" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">n</subfield><subfield code="2">rdamedia</subfield></datafield><datafield tag="338" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">nc</subfield><subfield code="2">rdacarrier</subfield></datafield><datafield tag="490" ind1="0" ind2=" "><subfield code="a">Berichte der Kernforschungsanlage Jülich</subfield><subfield code="v">2177</subfield></datafield><datafield tag="500" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">Zsfassung in engl. Sprache. - Zugl.: Düsseldorf, Univ., Diss.</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Oberfläche</subfield><subfield code="0">(DE-588)4042907-6</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Fotospannung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4252194-4</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Silicium</subfield><subfield code="0">(DE-588)4077445-4</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Elektronenstruktur</subfield><subfield code="0">(DE-588)4129531-6</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="655" ind1=" " ind2="7"><subfield code="0">(DE-588)4113937-9</subfield><subfield code="a">Hochschulschrift</subfield><subfield code="2">gnd-content</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="0"><subfield code="a">Silicium</subfield><subfield code="0">(DE-588)4077445-4</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="1"><subfield code="a">Oberfläche</subfield><subfield code="0">(DE-588)4042907-6</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="2"><subfield code="a">Elektronenstruktur</subfield><subfield code="0">(DE-588)4129531-6</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2=" "><subfield code="5">DE-604</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="1" ind2="0"><subfield code="a">Fotospannung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4252194-4</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="1" ind2="1"><subfield code="a">Oberfläche</subfield><subfield code="0">(DE-588)4042907-6</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="1" ind2="2"><subfield code="a">Silicium</subfield><subfield code="0">(DE-588)4077445-4</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="1" ind2=" "><subfield code="8">1\p</subfield><subfield code="5">DE-604</subfield></datafield><datafield tag="999" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-001353560</subfield></datafield><datafield tag="883" ind1="1" ind2=" "><subfield code="8">1\p</subfield><subfield code="a">cgwrk</subfield><subfield code="d">20201028</subfield><subfield code="q">DE-101</subfield><subfield code="u">https://d-nb.info/provenance/plan#cgwrk</subfield></datafield></record></collection> |
| genre | (DE-588)4113937-9 Hochschulschrift gnd-content |
| genre_facet | Hochschulschrift |
| id | DE-604.BV002069578 |
| illustrated | Illustrated |
| indexdate | 2024-07-09T15:39:48Z |
| institution | BVB |
| language | Undetermined |
| oai_aleph_id | oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-001353560 |
| oclc_num | 631857102 |
| open_access_boolean | |
| owner | DE-91 DE-BY-TUM |
| owner_facet | DE-91 DE-BY-TUM |
| physical | 103 S. graph. Darst. |
| publishDate | 1988 |
| publishDateSearch | 1988 |
| publishDateSort | 1988 |
| publisher | Zentralbibl. d. Kernforschungsanl. Jülich GmbH |
| record_format | marc |
| series2 | Berichte der Kernforschungsanlage Jülich |
| spelling | Reese, Elisabeth Verfasser aut Untersuchung der Oberflächenzustände der Si(001)-Fläche mit der Kelvin-Methode Reportnr. Jül 2177 Als Ms. gedr. Jülich Zentralbibl. d. Kernforschungsanl. Jülich GmbH 1988 103 S. graph. Darst. txt rdacontent n rdamedia nc rdacarrier Berichte der Kernforschungsanlage Jülich 2177 Zsfassung in engl. Sprache. - Zugl.: Düsseldorf, Univ., Diss. Oberfläche (DE-588)4042907-6 gnd rswk-swf Fotospannung (DE-588)4252194-4 gnd rswk-swf Silicium (DE-588)4077445-4 gnd rswk-swf Elektronenstruktur (DE-588)4129531-6 gnd rswk-swf (DE-588)4113937-9 Hochschulschrift gnd-content Silicium (DE-588)4077445-4 s Oberfläche (DE-588)4042907-6 s Elektronenstruktur (DE-588)4129531-6 s DE-604 Fotospannung (DE-588)4252194-4 s 1\p DE-604 1\p cgwrk 20201028 DE-101 https://d-nb.info/provenance/plan#cgwrk |
| spellingShingle | Reese, Elisabeth Untersuchung der Oberflächenzustände der Si(001)-Fläche mit der Kelvin-Methode Oberfläche (DE-588)4042907-6 gnd Fotospannung (DE-588)4252194-4 gnd Silicium (DE-588)4077445-4 gnd Elektronenstruktur (DE-588)4129531-6 gnd |
| subject_GND | (DE-588)4042907-6 (DE-588)4252194-4 (DE-588)4077445-4 (DE-588)4129531-6 (DE-588)4113937-9 |
| title | Untersuchung der Oberflächenzustände der Si(001)-Fläche mit der Kelvin-Methode |
| title_alt | Reportnr. Jül 2177 |
| title_auth | Untersuchung der Oberflächenzustände der Si(001)-Fläche mit der Kelvin-Methode |
| title_exact_search | Untersuchung der Oberflächenzustände der Si(001)-Fläche mit der Kelvin-Methode |
| title_full | Untersuchung der Oberflächenzustände der Si(001)-Fläche mit der Kelvin-Methode |
| title_fullStr | Untersuchung der Oberflächenzustände der Si(001)-Fläche mit der Kelvin-Methode |
| title_full_unstemmed | Untersuchung der Oberflächenzustände der Si(001)-Fläche mit der Kelvin-Methode |
| title_short | Untersuchung der Oberflächenzustände der Si(001)-Fläche mit der Kelvin-Methode |
| title_sort | untersuchung der oberflachenzustande der si 001 flache mit der kelvin methode |
| topic | Oberfläche (DE-588)4042907-6 gnd Fotospannung (DE-588)4252194-4 gnd Silicium (DE-588)4077445-4 gnd Elektronenstruktur (DE-588)4129531-6 gnd |
| topic_facet | Oberfläche Fotospannung Silicium Elektronenstruktur Hochschulschrift |
| work_keys_str_mv | AT reeseelisabeth untersuchungderoberflachenzustandedersi001flachemitderkelvinmethode AT reeseelisabeth reportnrjul2177 |