Photoleitfähigkeits- und Photokapazitätsmessungen an eisen-dotiertem Silizium:
Gespeichert in:
| 1. Verfasser: | |
|---|---|
| Format: | Abschlussarbeit Buch |
| Sprache: | German |
| Veröffentlicht: |
Stuttgart
1982
|
| Schlagworte: | |
| Beschreibung: | 93 S. graph. Darst. |
Internformat
MARC
| LEADER | 00000nam a2200000 c 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | BV002015838 | ||
| 003 | DE-604 | ||
| 005 | 00000000000000.0 | ||
| 007 | t | ||
| 008 | 890928s1982 d||| m||| 00||| ger d | ||
| 035 | |a (OCoLC)45920875 | ||
| 035 | |a (DE-599)BVBBV002015838 | ||
| 040 | |a DE-604 |b ger |e rakddb | ||
| 041 | 0 | |a ger | |
| 049 | |a DE-91 |a DE-188 | ||
| 084 | |a PHY 673d |2 stub | ||
| 100 | 1 | |a Fröhner, Karl-Heinz |e Verfasser |4 aut | |
| 245 | 1 | 0 | |a Photoleitfähigkeits- und Photokapazitätsmessungen an eisen-dotiertem Silizium |
| 264 | 1 | |a Stuttgart |c 1982 | |
| 300 | |a 93 S. |b graph. Darst. | ||
| 336 | |b txt |2 rdacontent | ||
| 337 | |b n |2 rdamedia | ||
| 338 | |b nc |2 rdacarrier | ||
| 502 | |a Stuttgart, Univ., Diss., 1982 | ||
| 650 | 0 | 7 | |a Dotierung |0 (DE-588)4130672-7 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 650 | 0 | 7 | |a Eisen |0 (DE-588)4014002-7 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 650 | 0 | 7 | |a Halbleiter |0 (DE-588)4022993-2 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 650 | 0 | 7 | |a Photoleitung |0 (DE-588)4174515-2 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 650 | 0 | 7 | |a Tiefe Störstelle |0 (DE-588)4185419-6 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 650 | 0 | 7 | |a Silicium |0 (DE-588)4077445-4 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 655 | 7 | |0 (DE-588)4113937-9 |a Hochschulschrift |2 gnd-content | |
| 689 | 0 | 0 | |a Halbleiter |0 (DE-588)4022993-2 |D s |
| 689 | 0 | 1 | |a Tiefe Störstelle |0 (DE-588)4185419-6 |D s |
| 689 | 0 | |5 DE-604 | |
| 689 | 1 | 0 | |a Silicium |0 (DE-588)4077445-4 |D s |
| 689 | 1 | 1 | |a Dotierung |0 (DE-588)4130672-7 |D s |
| 689 | 1 | 2 | |a Eisen |0 (DE-588)4014002-7 |D s |
| 689 | 1 | 3 | |a Tiefe Störstelle |0 (DE-588)4185419-6 |D s |
| 689 | 1 | |8 1\p |5 DE-604 | |
| 689 | 2 | 0 | |a Silicium |0 (DE-588)4077445-4 |D s |
| 689 | 2 | 1 | |a Dotierung |0 (DE-588)4130672-7 |D s |
| 689 | 2 | 2 | |a Eisen |0 (DE-588)4014002-7 |D s |
| 689 | 2 | 3 | |a Photoleitung |0 (DE-588)4174515-2 |D s |
| 689 | 2 | |8 2\p |5 DE-604 | |
| 999 | |a oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-001315969 | ||
| 883 | 1 | |8 1\p |a cgwrk |d 20201028 |q DE-101 |u https://d-nb.info/provenance/plan#cgwrk | |
| 883 | 1 | |8 2\p |a cgwrk |d 20201028 |q DE-101 |u https://d-nb.info/provenance/plan#cgwrk | |
Datensatz im Suchindex
| _version_ | 1804116464385392640 |
|---|---|
| any_adam_object | |
| author | Fröhner, Karl-Heinz |
| author_facet | Fröhner, Karl-Heinz |
| author_role | aut |
| author_sort | Fröhner, Karl-Heinz |
| author_variant | k h f khf |
| building | Verbundindex |
| bvnumber | BV002015838 |
| classification_tum | PHY 673d |
| ctrlnum | (OCoLC)45920875 (DE-599)BVBBV002015838 |
| discipline | Physik |
| format | Thesis Book |
| fullrecord | <?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?><collection xmlns="http://www.loc.gov/MARC21/slim"><record><leader>01934nam a2200529 c 4500</leader><controlfield tag="001">BV002015838</controlfield><controlfield tag="003">DE-604</controlfield><controlfield tag="005">00000000000000.0</controlfield><controlfield tag="007">t</controlfield><controlfield tag="008">890928s1982 d||| m||| 00||| ger d</controlfield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(OCoLC)45920875</subfield></datafield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(DE-599)BVBBV002015838</subfield></datafield><datafield tag="040" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-604</subfield><subfield code="b">ger</subfield><subfield code="e">rakddb</subfield></datafield><datafield tag="041" ind1="0" ind2=" "><subfield code="a">ger</subfield></datafield><datafield tag="049" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-91</subfield><subfield code="a">DE-188</subfield></datafield><datafield tag="084" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">PHY 673d</subfield><subfield code="2">stub</subfield></datafield><datafield tag="100" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">Fröhner, Karl-Heinz</subfield><subfield code="e">Verfasser</subfield><subfield code="4">aut</subfield></datafield><datafield tag="245" ind1="1" ind2="0"><subfield code="a">Photoleitfähigkeits- und Photokapazitätsmessungen an eisen-dotiertem Silizium</subfield></datafield><datafield tag="264" ind1=" " ind2="1"><subfield code="a">Stuttgart</subfield><subfield code="c">1982</subfield></datafield><datafield tag="300" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">93 S.</subfield><subfield code="b">graph. Darst.</subfield></datafield><datafield tag="336" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">txt</subfield><subfield code="2">rdacontent</subfield></datafield><datafield tag="337" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">n</subfield><subfield code="2">rdamedia</subfield></datafield><datafield tag="338" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">nc</subfield><subfield code="2">rdacarrier</subfield></datafield><datafield tag="502" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">Stuttgart, Univ., Diss., 1982</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Dotierung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4130672-7</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Eisen</subfield><subfield code="0">(DE-588)4014002-7</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Halbleiter</subfield><subfield code="0">(DE-588)4022993-2</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Photoleitung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4174515-2</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Tiefe Störstelle</subfield><subfield code="0">(DE-588)4185419-6</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Silicium</subfield><subfield code="0">(DE-588)4077445-4</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="655" ind1=" " ind2="7"><subfield code="0">(DE-588)4113937-9</subfield><subfield code="a">Hochschulschrift</subfield><subfield code="2">gnd-content</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="0"><subfield code="a">Halbleiter</subfield><subfield code="0">(DE-588)4022993-2</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="1"><subfield code="a">Tiefe Störstelle</subfield><subfield code="0">(DE-588)4185419-6</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2=" "><subfield code="5">DE-604</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="1" ind2="0"><subfield code="a">Silicium</subfield><subfield code="0">(DE-588)4077445-4</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="1" ind2="1"><subfield code="a">Dotierung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4130672-7</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="1" ind2="2"><subfield code="a">Eisen</subfield><subfield code="0">(DE-588)4014002-7</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="1" ind2="3"><subfield code="a">Tiefe Störstelle</subfield><subfield code="0">(DE-588)4185419-6</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="1" ind2=" "><subfield code="8">1\p</subfield><subfield code="5">DE-604</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="2" ind2="0"><subfield code="a">Silicium</subfield><subfield code="0">(DE-588)4077445-4</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="2" ind2="1"><subfield code="a">Dotierung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4130672-7</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="2" ind2="2"><subfield code="a">Eisen</subfield><subfield code="0">(DE-588)4014002-7</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="2" ind2="3"><subfield code="a">Photoleitung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4174515-2</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="2" ind2=" "><subfield code="8">2\p</subfield><subfield code="5">DE-604</subfield></datafield><datafield tag="999" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-001315969</subfield></datafield><datafield tag="883" ind1="1" ind2=" "><subfield code="8">1\p</subfield><subfield code="a">cgwrk</subfield><subfield code="d">20201028</subfield><subfield code="q">DE-101</subfield><subfield code="u">https://d-nb.info/provenance/plan#cgwrk</subfield></datafield><datafield tag="883" ind1="1" ind2=" "><subfield code="8">2\p</subfield><subfield code="a">cgwrk</subfield><subfield code="d">20201028</subfield><subfield code="q">DE-101</subfield><subfield code="u">https://d-nb.info/provenance/plan#cgwrk</subfield></datafield></record></collection> |
| genre | (DE-588)4113937-9 Hochschulschrift gnd-content |
| genre_facet | Hochschulschrift |
| id | DE-604.BV002015838 |
| illustrated | Illustrated |
| indexdate | 2024-07-09T15:38:55Z |
| institution | BVB |
| language | German |
| oai_aleph_id | oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-001315969 |
| oclc_num | 45920875 |
| open_access_boolean | |
| owner | DE-91 DE-BY-TUM DE-188 |
| owner_facet | DE-91 DE-BY-TUM DE-188 |
| physical | 93 S. graph. Darst. |
| publishDate | 1982 |
| publishDateSearch | 1982 |
| publishDateSort | 1982 |
| record_format | marc |
| spelling | Fröhner, Karl-Heinz Verfasser aut Photoleitfähigkeits- und Photokapazitätsmessungen an eisen-dotiertem Silizium Stuttgart 1982 93 S. graph. Darst. txt rdacontent n rdamedia nc rdacarrier Stuttgart, Univ., Diss., 1982 Dotierung (DE-588)4130672-7 gnd rswk-swf Eisen (DE-588)4014002-7 gnd rswk-swf Halbleiter (DE-588)4022993-2 gnd rswk-swf Photoleitung (DE-588)4174515-2 gnd rswk-swf Tiefe Störstelle (DE-588)4185419-6 gnd rswk-swf Silicium (DE-588)4077445-4 gnd rswk-swf (DE-588)4113937-9 Hochschulschrift gnd-content Halbleiter (DE-588)4022993-2 s Tiefe Störstelle (DE-588)4185419-6 s DE-604 Silicium (DE-588)4077445-4 s Dotierung (DE-588)4130672-7 s Eisen (DE-588)4014002-7 s 1\p DE-604 Photoleitung (DE-588)4174515-2 s 2\p DE-604 1\p cgwrk 20201028 DE-101 https://d-nb.info/provenance/plan#cgwrk 2\p cgwrk 20201028 DE-101 https://d-nb.info/provenance/plan#cgwrk |
| spellingShingle | Fröhner, Karl-Heinz Photoleitfähigkeits- und Photokapazitätsmessungen an eisen-dotiertem Silizium Dotierung (DE-588)4130672-7 gnd Eisen (DE-588)4014002-7 gnd Halbleiter (DE-588)4022993-2 gnd Photoleitung (DE-588)4174515-2 gnd Tiefe Störstelle (DE-588)4185419-6 gnd Silicium (DE-588)4077445-4 gnd |
| subject_GND | (DE-588)4130672-7 (DE-588)4014002-7 (DE-588)4022993-2 (DE-588)4174515-2 (DE-588)4185419-6 (DE-588)4077445-4 (DE-588)4113937-9 |
| title | Photoleitfähigkeits- und Photokapazitätsmessungen an eisen-dotiertem Silizium |
| title_auth | Photoleitfähigkeits- und Photokapazitätsmessungen an eisen-dotiertem Silizium |
| title_exact_search | Photoleitfähigkeits- und Photokapazitätsmessungen an eisen-dotiertem Silizium |
| title_full | Photoleitfähigkeits- und Photokapazitätsmessungen an eisen-dotiertem Silizium |
| title_fullStr | Photoleitfähigkeits- und Photokapazitätsmessungen an eisen-dotiertem Silizium |
| title_full_unstemmed | Photoleitfähigkeits- und Photokapazitätsmessungen an eisen-dotiertem Silizium |
| title_short | Photoleitfähigkeits- und Photokapazitätsmessungen an eisen-dotiertem Silizium |
| title_sort | photoleitfahigkeits und photokapazitatsmessungen an eisen dotiertem silizium |
| topic | Dotierung (DE-588)4130672-7 gnd Eisen (DE-588)4014002-7 gnd Halbleiter (DE-588)4022993-2 gnd Photoleitung (DE-588)4174515-2 gnd Tiefe Störstelle (DE-588)4185419-6 gnd Silicium (DE-588)4077445-4 gnd |
| topic_facet | Dotierung Eisen Halbleiter Photoleitung Tiefe Störstelle Silicium Hochschulschrift |
| work_keys_str_mv | AT frohnerkarlheinz photoleitfahigkeitsundphotokapazitatsmessungenaneisendotiertemsilizium |