Kapazitätstransienten-Untersuchungen an tiefen Störstellen in Silizium:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Wünstel, Klaus (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:Undetermined
Veröffentlicht: Stuttgart 1982
Schlagworte:
Beschreibung:Stuttgart, Univ., Diss., 1982
Beschreibung:117 S. graph. Darst.

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