X-Ray optics and X-Ray microanalysis: 3. international symposium, Stanford Univ., Stanford, Calif., August (22-24), 1962
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Bibliographische Detailangaben
Körperschaft: International Symposium on X-Ray Optics and X-Ray Microanalysis Stanford, Calif (VerfasserIn)
Format: Tagungsbericht Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: New York [u.a.] Acad. Press 1963
Schlagworte:
Beschreibung:XVII, 622 S. Ill., graph. Darst.

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