Haftstellenspektroskopie mit DLTS an Defekten in Silicium:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Lefèvre, Helmut (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:German
Veröffentlicht: 1981
Schlagworte:
Beschreibung:Erlangen-Nürnberg, Univ., Diss., 1981
Beschreibung:190 S.

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