Lefèvre, H. (1981). Haftstellenspektroskopie mit DLTS an Defekten in Silicium.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Lefèvre, Helmut. Haftstellenspektroskopie Mit DLTS an Defekten in Silicium. 1981.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Lefèvre, Helmut. Haftstellenspektroskopie Mit DLTS an Defekten in Silicium. 1981.
Achtung: Diese Zitate sind unter Umständen nicht zu 100% korrekt.