APA (7th ed.) Citation

Bünau, G. v., & Klöppel, K. (1981). Anwendungen der hochauflösenden Sekundärionenmassenspektrometrie (SIMS) in der Oberflächenanalyse. Westdt. Verl.

Chicago Style (17th ed.) Citation

Bünau, Günther von, and Klaus-Dieter Klöppel. Anwendungen Der Hochauflösenden Sekundärionenmassenspektrometrie (SIMS) in Der Oberflächenanalyse. Opladen: Westdt. Verl, 1981.

MLA (9th ed.) Citation

Bünau, Günther von, and Klaus-Dieter Klöppel. Anwendungen Der Hochauflösenden Sekundärionenmassenspektrometrie (SIMS) in Der Oberflächenanalyse. Westdt. Verl, 1981.