Schneider, W. (1980). Die Verbesserung der Nachweisempfindlichkeit von Lithium gedrifteten Ge-Detektoren für Gammastrahlung bei Beleuchtung mit Infrarotlicht der Wellenlänge 1,520 Mikrometer bis 1,795 Mikrometer.
Chicago Style (17th ed.) CitationSchneider, Willi. Die Verbesserung Der Nachweisempfindlichkeit Von Lithium Gedrifteten Ge-Detektoren Für Gammastrahlung Bei Beleuchtung Mit Infrarotlicht Der Wellenlänge 1,520 Mikrometer Bis 1,795 Mikrometer. 1980.
MLA (9th ed.) CitationSchneider, Willi. Die Verbesserung Der Nachweisempfindlichkeit Von Lithium Gedrifteten Ge-Detektoren Für Gammastrahlung Bei Beleuchtung Mit Infrarotlicht Der Wellenlänge 1,520 Mikrometer Bis 1,795 Mikrometer. 1980.
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