Secondary ion mass spectrometry: SIMS V ; proceedings of the fifth international conference, Washington, DC, September 30 - October 4, 1985
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Weitere Verfasser: Benninghoven, Alfred (HerausgeberIn)
Format: Tagungsbericht Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: Berlin [u.a.] Springer 1986
Schriftenreihe:Springer series in chemical physics 44
Schlagworte:
Beschreibung:XXI, 561 S. Ill., graph. Darst.
ISBN:3540162631
0387162631

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