Feinstruktur-Spektroskopie an Ni-Ionen in II - VI-Halbleitern: ein neuartiges Verfahren zur Ermittlung der Elektron-Phonen-Wechselwirkung in dotierten Festkörpern
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Hoffmann, Axel (VerfasserIn)
Format: Abschlussarbeit Buch
Sprache:German
Veröffentlicht: 1985
Schlagworte:
Beschreibung:168 S.

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