Hoffmann, A. (1985). Feinstruktur-Spektroskopie an Ni-Ionen in II - VI-Halbleitern: Ein neuartiges Verfahren zur Ermittlung der Elektron-Phonen-Wechselwirkung in dotierten Festkörpern.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Hoffmann, Axel. Feinstruktur-Spektroskopie an Ni-Ionen in II - VI-Halbleitern: Ein Neuartiges Verfahren Zur Ermittlung Der Elektron-Phonen-Wechselwirkung in Dotierten Festkörpern. 1985.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Hoffmann, Axel. Feinstruktur-Spektroskopie an Ni-Ionen in II - VI-Halbleitern: Ein Neuartiges Verfahren Zur Ermittlung Der Elektron-Phonen-Wechselwirkung in Dotierten Festkörpern. 1985.
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