APA (7th ed.) Citation

Franz, G. (1982). Kristallfehler in integrierten Schaltkreisen aus Silizium, insbesondere in Hinblick auf Größtintegration (VLSI). Fachinformationszentrum.

Chicago Style (17th ed.) Citation

Franz, Günther. Kristallfehler in Integrierten Schaltkreisen Aus Silizium, Insbesondere in Hinblick Auf Größtintegration (VLSI). Karlsruhe: Fachinformationszentrum, 1982.

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Franz, Günther. Kristallfehler in Integrierten Schaltkreisen Aus Silizium, Insbesondere in Hinblick Auf Größtintegration (VLSI). Fachinformationszentrum, 1982.