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    System-on-chip test architectures : nanometer design for testability /

    System-on-chip test architectures : nanometer design for testability /

    Veröffentlicht 2008
    Weitere Verfasser: “… Wang, Laung-Terng …”
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    VLSI test principles and architectures : design for testability /

    VLSI test principles and architectures : design for testability /

    Veröffentlicht 2006
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    VLSI test principles and architectures design for testability

    VLSI test principles and architectures design for testability

    Veröffentlicht 2006
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    VLSI test principles and architectures design for testability

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    Veröffentlicht 2006
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