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    Untersuchung tiefer Störstellen an Grenzflächen in GaAs-Bauelementen unter Einsatz von Photokapazität und Photo-Feldeffekttransitor-Messungen

    Untersuchung tiefer Störstellen an Grenzflächen in GaAs-Bauelementen unter Einsatz von Photokapazität und Photo-Feldeffekttransitor-Messungen von Tegude, Franz-Josef

    Veröffentlicht 1983
    Abschlussarbeit Buch Fernleihe Bestellen


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    Untersuchung tiefer Störstellen an Grenzflächen in GaAs-Bauelementen unter Einsatz von Photokapazität- und Photo-Feldeffekttransistor-Messungen

    Untersuchung tiefer Störstellen an Grenzflächen in GaAs-Bauelementen unter Einsatz von Photokapazität- und Photo-Feldeffekttransistor-Messungen von Tegude, Franz-Josef

    Veröffentlicht 1983
    Buch Fernleihe Bestellen


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