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    Imaging and illumination for metrology and inspection 2 - 4 November 1994, Boston, Massachusetts

    Imaging and illumination for metrology and inspection 2 - 4 November 1994, Boston, Massachusetts

    Veröffentlicht 1995
    Weitere Verfasser: “… Svetkoff, Donald J. …”
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    Optics, illumination, and image sensing for machine vision 30 - 31 October 1986, Cambridge, Massachusetts

    Optics, illumination, and image sensing for machine vision 30 - 31 October 1986, Cambridge, Massachusetts

    Veröffentlicht 1987
    Weitere Verfasser: “… Svetkoff, Donald J. …”
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