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  1. 1
    Optical scattering measurement and analysis

    Optical scattering measurement and analysis von Stover, John C.

    Veröffentlicht 2012
    Buch


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  2. 2
    Optical scattering measurement and analysis

    Optical scattering measurement and analysis von Stover, John C.

    Veröffentlicht 1995
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  3. 3
    Optical scattering measurement and analysis

    Optical scattering measurement and analysis von Stover, John C.

    Veröffentlicht 1995
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  4. 4
    Optical scattering measurement and analysis

    Optical scattering measurement and analysis von Stover, John C.

    Veröffentlicht 2012
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  5. 5
    Optical scattering measurement and analysis

    Optical scattering measurement and analysis von Stover, John C.

    Veröffentlicht 1990
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  6. 6
    Surface characterization for computer disks, wafers, and flat panel displays 28 January 1999, San Jose, California

    Surface characterization for computer disks, wafers, and flat panel displays 28 January 1999, San Jose, California

    Veröffentlicht 1999
    Weitere Verfasser: “… Stover, John C. …”
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  7. 7
    Flatness, roughness, and discrete defect characterization for computer disks, wafers, and flat panel displays 8 - 9 August 1996, Denver, Colorado

    Flatness, roughness, and discrete defect characterization for computer disks, wafers, and flat panel displays 8 - 9 August 1996, Denver, Colorado

    Veröffentlicht 1996
    Weitere Verfasser: “… Stover, John C. …”
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  8. 8
    Optical scattering in the optics, semiconductor, and computer disk industries 13 - 14 July 1995, San Diego, California

    Optical scattering in the optics, semiconductor, and computer disk industries 13 - 14 July 1995, San Diego, California

    Veröffentlicht 1995
    Weitere Verfasser: “… Stover, John C. …”
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  9. 9
    Scatter from optical components 8 - 10 August 1989, San Diego, Calif.

    Scatter from optical components 8 - 10 August 1989, San Diego, Calif.

    Veröffentlicht 1989
    Weitere Verfasser: “… Stover, John C. …”
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  10. 10
    Optical scatter applications, measurement, and theory ; 24 - 26 July 1991, San Diego, Calif.

    Optical scatter applications, measurement, and theory ; 24 - 26 July 1991, San Diego, Calif.

    Veröffentlicht 1991
    Weitere Verfasser: “… Stover, John C. …”
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