Dirk Stenkamp

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Kompositionelle und strukturelle Charakterisierung von verspannten Si/SiGe-Heterostrukturen mit hochauflösender Transmissionselektronenmikroskopie von Stenkamp, Dirk
Veröffentlicht 1993Signatur: Wird geladen …
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Kompositionelle und strukturelle Charakterisierung von verspannten Si/SiGe-Heterostrukturen mit hochauflösender Transmissionselektronenmikroskopie von Stenkamp, Dirk
Veröffentlicht 1993Signatur: Wird geladen …
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