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    Improving path delay fault testability by path removal

    Improving path delay fault testability by path removal von Sparmann, Uwe, Köller, Lars

    Veröffentlicht 1997
    Buch Fernleihe Bestellen


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  2. 2
    Entwurf und Test eines Schaltkreises für das Pattern-Matching

    Entwurf und Test eines Schaltkreises für das Pattern-Matching von Sparmann, Uwe

    Veröffentlicht 1986
    Buch Fernleihe Bestellen


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  3. 3
    Minimal delay test sets for unate gate networks

    Minimal delay test sets for unate gate networks von Sparmann, Uwe, Müller, H., Reddy, S. M.

    Veröffentlicht 1997
    Buch Fernleihe Bestellen


    Gespeichert in:
  4. 4
    Two layer wiring with pin preassignments

    Two layer wiring with pin preassignments von Molitor, Paul 1959-, Sparmann, Uwe, Wagner, Dorothea 1957-

    Veröffentlicht 1993
    Buch Fernleihe Bestellen


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  5. 5
    Strukturbasierte Testmethoden für arithmetische Schaltkreise

    Strukturbasierte Testmethoden für arithmetische Schaltkreise von Sparmann, Uwe

    Veröffentlicht 1991
    Buch Fernleihe Bestellen


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    A uniform test approach for RCC-adders

    A uniform test approach for RCC-adders von Becker, Bernd, Sparmann, Uwe

    Veröffentlicht 1987
    Buch Fernleihe Bestellen


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