Excess returns and risk at the long end of the treasury market: an EGARCH-M approach
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: Brunner, Allan D. (VerfasserIn), Simon, David P. (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: Washington, DC Board of Governors of the Federal Reserve System 1995
Schriftenreihe:International finance discussion papers 522
Schlagworte:
Beschreibung:22 S.

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