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    Frontiers of characterization and metrology for nanoelectronics 2007 International Conference on Frontiers of Characterization and Metrology for Nanoelectronics Gaithersburg, Maryland, 27 - 29 March 2007

    Frontiers of characterization and metrology for nanoelectronics 2007 International Conference on Frontiers of Characterization and Metrology for Nanoelectronics Gaithersburg, Maryl...

    Veröffentlicht 2007
    Weitere Verfasser: “… Seiler, David G. …”
    Inhaltsverzeichnis
    Tagungsbericht Buch Fernleihe Bestellen


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  2. 2
    Narrow-gap semiconductors and related materials

    Narrow-gap semiconductors and related materials

    Veröffentlicht 1990
    Weitere Verfasser: “… Seiler, David G. …”
    Tagungsbericht Buch Fernleihe Bestellen


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  3. 3
    The spectroscopy of semiconductors

    The spectroscopy of semiconductors

    Veröffentlicht 1992
    Weitere Verfasser: “… Seiler, David G. …”
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  4. 4
    Metrology and diagnostic techniques for nanoelectronics

    Metrology and diagnostic techniques for nanoelectronics

    Veröffentlicht 2017
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