Thermospannung in der Rastertunnelmikroskopie: Untersuchungen an homogenen und heterogenen Metall- und Halbleiteroberflächen
Gespeichert in:
| 1. Verfasser: | |
|---|---|
| Format: | Elektronisch E-Book |
| Sprache: | German |
| Veröffentlicht: |
2000
|
| Schlagworte: | |
| Online-Zugang: | http://miless.uni-essen.de/dissOnline/fb07/2000/seifritz.jörg |
| Beschreibung: | Essen, Univ., Diss., 2000 |
| Beschreibung: | 166 S. Ill., graph. Darst. : 21 cm |
Internformat
MARC
| LEADER | 00000nmm a2200000 c 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | BV013909465 | ||
| 003 | DE-604 | ||
| 005 | 20010913 | ||
| 006 | a m||| 00||| | ||
| 007 | cr|uuu---uuuuu | ||
| 008 | 010913s2000 |||| o||u| ||||||ger d | ||
| 035 | |a (OCoLC)163507932 | ||
| 035 | |a (DE-599)BVBBV013909465 | ||
| 040 | |a DE-604 |b ger |e rakddb | ||
| 041 | 0 | |a ger | |
| 049 | |a DE-384 |a DE-473 |a DE-703 |a DE-1051 |a DE-824 |a DE-29 |a DE-12 |a DE-91 |a DE-19 |a DE-1049 |a DE-92 |a DE-739 |a DE-355 |a DE-20 | ||
| 100 | 1 | |a Seifritz, Jörg |d 1967- |e Verfasser |0 (DE-588)122951395 |4 aut | |
| 245 | 1 | 0 | |a Thermospannung in der Rastertunnelmikroskopie |b Untersuchungen an homogenen und heterogenen Metall- und Halbleiteroberflächen |c vorgelegt von Jörg Seifritz |
| 264 | 1 | |c 2000 | |
| 300 | |a 166 S. |b Ill., graph. Darst. : 21 cm | ||
| 336 | |b txt |2 rdacontent | ||
| 337 | |b c |2 rdamedia | ||
| 338 | |b cr |2 rdacarrier | ||
| 500 | |a Essen, Univ., Diss., 2000 | ||
| 650 | 0 | 7 | |a Metalloberfläche |0 (DE-588)4169612-8 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 650 | 0 | 7 | |a Rastertunnelmikroskopie |0 (DE-588)4252995-5 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 650 | 0 | 7 | |a Thermokraft |0 (DE-588)4130571-1 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 650 | 0 | 7 | |a Halbleiteroberfläche |0 (DE-588)4137418-6 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 655 | 7 | |0 (DE-588)4113937-9 |a Hochschulschrift |2 gnd-content | |
| 689 | 0 | 0 | |a Metalloberfläche |0 (DE-588)4169612-8 |D s |
| 689 | 0 | 1 | |a Thermokraft |0 (DE-588)4130571-1 |D s |
| 689 | 0 | 2 | |a Rastertunnelmikroskopie |0 (DE-588)4252995-5 |D s |
| 689 | 0 | |5 DE-604 | |
| 689 | 1 | 0 | |a Halbleiteroberfläche |0 (DE-588)4137418-6 |D s |
| 689 | 1 | 1 | |a Thermokraft |0 (DE-588)4130571-1 |D s |
| 689 | 1 | 2 | |a Rastertunnelmikroskopie |0 (DE-588)4252995-5 |D s |
| 689 | 1 | |5 DE-604 | |
| 856 | 4 | |u http://miless.uni-essen.de/dissOnline/fb07/2000/seifritz.jörg | |
| 912 | |a ebook | ||
| 999 | |a oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-009517181 | ||
Datensatz im Suchindex
| _version_ | 1804128752203988992 |
|---|---|
| any_adam_object | |
| author | Seifritz, Jörg 1967- |
| author_GND | (DE-588)122951395 |
| author_facet | Seifritz, Jörg 1967- |
| author_role | aut |
| author_sort | Seifritz, Jörg 1967- |
| author_variant | j s js |
| building | Verbundindex |
| bvnumber | BV013909465 |
| collection | ebook |
| ctrlnum | (OCoLC)163507932 (DE-599)BVBBV013909465 |
| format | Electronic eBook |
| fullrecord | <?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?><collection xmlns="http://www.loc.gov/MARC21/slim"><record><leader>01793nmm a2200445 c 4500</leader><controlfield tag="001">BV013909465</controlfield><controlfield tag="003">DE-604</controlfield><controlfield tag="005">20010913 </controlfield><controlfield tag="006">a m||| 00||| </controlfield><controlfield tag="007">cr|uuu---uuuuu</controlfield><controlfield tag="008">010913s2000 |||| o||u| ||||||ger d</controlfield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(OCoLC)163507932</subfield></datafield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(DE-599)BVBBV013909465</subfield></datafield><datafield tag="040" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-604</subfield><subfield code="b">ger</subfield><subfield code="e">rakddb</subfield></datafield><datafield tag="041" ind1="0" ind2=" "><subfield code="a">ger</subfield></datafield><datafield tag="049" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-384</subfield><subfield code="a">DE-473</subfield><subfield code="a">DE-703</subfield><subfield code="a">DE-1051</subfield><subfield code="a">DE-824</subfield><subfield code="a">DE-29</subfield><subfield code="a">DE-12</subfield><subfield code="a">DE-91</subfield><subfield code="a">DE-19</subfield><subfield code="a">DE-1049</subfield><subfield code="a">DE-92</subfield><subfield code="a">DE-739</subfield><subfield code="a">DE-355</subfield><subfield code="a">DE-20</subfield></datafield><datafield tag="100" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">Seifritz, Jörg</subfield><subfield code="d">1967-</subfield><subfield code="e">Verfasser</subfield><subfield code="0">(DE-588)122951395</subfield><subfield code="4">aut</subfield></datafield><datafield tag="245" ind1="1" ind2="0"><subfield code="a">Thermospannung in der Rastertunnelmikroskopie</subfield><subfield code="b">Untersuchungen an homogenen und heterogenen Metall- und Halbleiteroberflächen</subfield><subfield code="c">vorgelegt von Jörg Seifritz</subfield></datafield><datafield tag="264" ind1=" " ind2="1"><subfield code="c">2000</subfield></datafield><datafield tag="300" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">166 S.</subfield><subfield code="b">Ill., graph. Darst. : 21 cm</subfield></datafield><datafield tag="336" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">txt</subfield><subfield code="2">rdacontent</subfield></datafield><datafield tag="337" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">c</subfield><subfield code="2">rdamedia</subfield></datafield><datafield tag="338" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">cr</subfield><subfield code="2">rdacarrier</subfield></datafield><datafield tag="500" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">Essen, Univ., Diss., 2000</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Metalloberfläche</subfield><subfield code="0">(DE-588)4169612-8</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Rastertunnelmikroskopie</subfield><subfield code="0">(DE-588)4252995-5</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Thermokraft</subfield><subfield code="0">(DE-588)4130571-1</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Halbleiteroberfläche</subfield><subfield code="0">(DE-588)4137418-6</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="655" ind1=" " ind2="7"><subfield code="0">(DE-588)4113937-9</subfield><subfield code="a">Hochschulschrift</subfield><subfield code="2">gnd-content</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="0"><subfield code="a">Metalloberfläche</subfield><subfield code="0">(DE-588)4169612-8</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="1"><subfield code="a">Thermokraft</subfield><subfield code="0">(DE-588)4130571-1</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="2"><subfield code="a">Rastertunnelmikroskopie</subfield><subfield code="0">(DE-588)4252995-5</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2=" "><subfield code="5">DE-604</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="1" ind2="0"><subfield code="a">Halbleiteroberfläche</subfield><subfield code="0">(DE-588)4137418-6</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="1" ind2="1"><subfield code="a">Thermokraft</subfield><subfield code="0">(DE-588)4130571-1</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="1" ind2="2"><subfield code="a">Rastertunnelmikroskopie</subfield><subfield code="0">(DE-588)4252995-5</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="1" ind2=" "><subfield code="5">DE-604</subfield></datafield><datafield tag="856" ind1="4" ind2=" "><subfield code="u">http://miless.uni-essen.de/dissOnline/fb07/2000/seifritz.jörg</subfield></datafield><datafield tag="912" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">ebook</subfield></datafield><datafield tag="999" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-009517181</subfield></datafield></record></collection> |
| genre | (DE-588)4113937-9 Hochschulschrift gnd-content |
| genre_facet | Hochschulschrift |
| id | DE-604.BV013909465 |
| illustrated | Illustrated |
| indexdate | 2024-07-09T18:54:14Z |
| institution | BVB |
| language | German |
| oai_aleph_id | oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-009517181 |
| oclc_num | 163507932 |
| open_access_boolean | |
| owner | DE-384 DE-473 DE-BY-UBG DE-703 DE-1051 DE-824 DE-29 DE-12 DE-91 DE-BY-TUM DE-19 DE-BY-UBM DE-1049 DE-92 DE-739 DE-355 DE-BY-UBR DE-20 |
| owner_facet | DE-384 DE-473 DE-BY-UBG DE-703 DE-1051 DE-824 DE-29 DE-12 DE-91 DE-BY-TUM DE-19 DE-BY-UBM DE-1049 DE-92 DE-739 DE-355 DE-BY-UBR DE-20 |
| physical | 166 S. Ill., graph. Darst. : 21 cm |
| psigel | ebook |
| publishDate | 2000 |
| publishDateSearch | 2000 |
| publishDateSort | 2000 |
| record_format | marc |
| spelling | Seifritz, Jörg 1967- Verfasser (DE-588)122951395 aut Thermospannung in der Rastertunnelmikroskopie Untersuchungen an homogenen und heterogenen Metall- und Halbleiteroberflächen vorgelegt von Jörg Seifritz 2000 166 S. Ill., graph. Darst. : 21 cm txt rdacontent c rdamedia cr rdacarrier Essen, Univ., Diss., 2000 Metalloberfläche (DE-588)4169612-8 gnd rswk-swf Rastertunnelmikroskopie (DE-588)4252995-5 gnd rswk-swf Thermokraft (DE-588)4130571-1 gnd rswk-swf Halbleiteroberfläche (DE-588)4137418-6 gnd rswk-swf (DE-588)4113937-9 Hochschulschrift gnd-content Metalloberfläche (DE-588)4169612-8 s Thermokraft (DE-588)4130571-1 s Rastertunnelmikroskopie (DE-588)4252995-5 s DE-604 Halbleiteroberfläche (DE-588)4137418-6 s http://miless.uni-essen.de/dissOnline/fb07/2000/seifritz.jörg |
| spellingShingle | Seifritz, Jörg 1967- Thermospannung in der Rastertunnelmikroskopie Untersuchungen an homogenen und heterogenen Metall- und Halbleiteroberflächen Metalloberfläche (DE-588)4169612-8 gnd Rastertunnelmikroskopie (DE-588)4252995-5 gnd Thermokraft (DE-588)4130571-1 gnd Halbleiteroberfläche (DE-588)4137418-6 gnd |
| subject_GND | (DE-588)4169612-8 (DE-588)4252995-5 (DE-588)4130571-1 (DE-588)4137418-6 (DE-588)4113937-9 |
| title | Thermospannung in der Rastertunnelmikroskopie Untersuchungen an homogenen und heterogenen Metall- und Halbleiteroberflächen |
| title_auth | Thermospannung in der Rastertunnelmikroskopie Untersuchungen an homogenen und heterogenen Metall- und Halbleiteroberflächen |
| title_exact_search | Thermospannung in der Rastertunnelmikroskopie Untersuchungen an homogenen und heterogenen Metall- und Halbleiteroberflächen |
| title_full | Thermospannung in der Rastertunnelmikroskopie Untersuchungen an homogenen und heterogenen Metall- und Halbleiteroberflächen vorgelegt von Jörg Seifritz |
| title_fullStr | Thermospannung in der Rastertunnelmikroskopie Untersuchungen an homogenen und heterogenen Metall- und Halbleiteroberflächen vorgelegt von Jörg Seifritz |
| title_full_unstemmed | Thermospannung in der Rastertunnelmikroskopie Untersuchungen an homogenen und heterogenen Metall- und Halbleiteroberflächen vorgelegt von Jörg Seifritz |
| title_short | Thermospannung in der Rastertunnelmikroskopie |
| title_sort | thermospannung in der rastertunnelmikroskopie untersuchungen an homogenen und heterogenen metall und halbleiteroberflachen |
| title_sub | Untersuchungen an homogenen und heterogenen Metall- und Halbleiteroberflächen |
| topic | Metalloberfläche (DE-588)4169612-8 gnd Rastertunnelmikroskopie (DE-588)4252995-5 gnd Thermokraft (DE-588)4130571-1 gnd Halbleiteroberfläche (DE-588)4137418-6 gnd |
| topic_facet | Metalloberfläche Rastertunnelmikroskopie Thermokraft Halbleiteroberfläche Hochschulschrift |
| url | http://miless.uni-essen.de/dissOnline/fb07/2000/seifritz.jörg |
| work_keys_str_mv | AT seifritzjorg thermospannunginderrastertunnelmikroskopieuntersuchungenanhomogenenundheterogenenmetallundhalbleiteroberflachen |