Praxis der Rasterelektronenmikroskopie und Mikrobereichsanalyse:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Schmidt, Peter Fritz (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:German
Veröffentlicht: Renningen expert-Verlag GmbH, Fachverlag für Wirtschaft und Technik 2018
Ausgabe:2., vollst. neubearb. Aufl.
Schriftenreihe:Kontakt & Studium 444
Schlagworte:
Beschreibung:Erscheint nicht lt. Verlag
Beschreibung:800 S.
ISBN:9783816915973
3816915973

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