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Infrarot-spektroskopische Analyse optisch inhomogener Halbleiter von Scheuermann, Uwe
Veröffentlicht 1989Signatur: Wird geladen …
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Semiconductor power devices physics, characteristics, reliability von Lutz, Josef 1954-, Schlangenotto, Heinrich 1932-, Scheuermann, Uwe, De Doncker, Rik W. 1958-
Veröffentlicht 2018Signatur: Wird geladen …
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