Ein neues Modell zur dreidimensionalen Rekonstruktion von Messdaten eines Rasterelektronenmikroskops:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Scheuer, Renke Harm 1985- (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Reithmeier, Eduard 1957- (HerausgeberIn)
Format: Abschlussarbeit Buch
Sprache:German
Veröffentlicht: Garbsen PZH Verlag [2015]
Ausgabe:[Erstausgabe]
Schriftenreihe:Berichte aus dem imr Band 01/2015
Schlagworte:
Online-Zugang:Inhaltsverzeichnis
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Beschreibung:XXVI, 175 Seiten Illustrationen 21 cm
ISBN:9783959000338
3959000332

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