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    Optical knife-edge displacement sensor for high-speed atomic force microscopy

    Optical knife-edge displacement sensor for high-speed atomic force microscopy von Braunsmann, Christoph, Prucker, Veronika, Schäffer, Tilman 1970-

    Veröffentlicht 2014
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    Scanning ion conductance microscopy

    Scanning ion conductance microscopy

    Veröffentlicht 2022
    Weitere Verfasser: “… Schäffer, Tilman 1970- …”
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