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    Contactless VLSI Measurement and Testing Techniques

    Contactless VLSI Measurement and Testing Techniques von Sayil, Selahattin

    Veröffentlicht 2018
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    Soft error mechanisms, modeling and mitigation

    Soft error mechanisms, modeling and mitigation von Sayil, Selahattin

    Veröffentlicht 2016
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    Noise Contamination in Nanoscale VLSI Circuits

    Noise Contamination in Nanoscale VLSI Circuits von Sayil, Selahattin

    Veröffentlicht 2022

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