Tagungsbericht: München, 11. - 12. Nov. 1982
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: Murcko, R. M. (VerfasserIn), Napp, D. T. (VerfasserIn), Ruane, R. E. (VerfasserIn)
Körperschaft: International Macroelectronics Conference München (VerfasserIn)
Format: Tagungsbericht Buch
Sprache:Undetermined
Veröffentlicht: München Münchener Messe- u. Ausstellungs-GmbH 1982
Schlagworte:
Beschreibung:Literaturangaben. - PST: Proceedings. - NE: Murcko, R. M.: Printed circuit reliability exposures due to contaminants. Napp, D. T.: Printed circuit reliability exposures due to contaminants. Ruane, R. E.: Printed circuit reliability exposures due to contaminants
Beschreibung:194 S. graph. Darst. u. Beil.

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