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    Wacker's atlas for characterization of defects in silicon

    Wacker's atlas for characterization of defects in silicon von Rauh, Herbert

    Veröffentlicht 1989
    Buch Fernleihe Bestellen


    Gespeichert in:
  2. 2
    Temperaturabhängigkeit der Valleyaufspaltung in der n-Kanal-Inversionsrandschicht von Silizium-MOS-Feldeffekttransistoren

    Temperaturabhängigkeit der Valleyaufspaltung in der n-Kanal-Inversionsrandschicht von Silizium-MOS-Feldeffekttransistoren von Rauh, Herbert

    Veröffentlicht 1979
    Buch Fernleihe Bestellen


    Gespeichert in:
  3. 3
    Gutachten: Weiterentwicklung vorhandener Transportsysteme und neue Technologien

    Gutachten: Weiterentwicklung vorhandener Transportsysteme und neue Technologien von Baz, Peter, Allesch, Jürgen, Rauh, Herbert

    Veröffentlicht 1973
    Buch Fernleihe Bestellen


    Gespeichert in:
  4. 4
    Gutachten: Weiterentwicklung vorhandener Transportsysteme und neue Technologien

    Gutachten: Weiterentwicklung vorhandener Transportsysteme und neue Technologien von Baz, Peter, Allesch, Jürgen, Rauh, Herbert

    Veröffentlicht 1973
    Buch Fernleihe Bestellen


    Gespeichert in:
  5. 5
    Gutachten: Weiterentwicklung vorhandener Transportsysteme und neue Technologien

    Gutachten: Weiterentwicklung vorhandener Transportsysteme und neue Technologien von Baz, Peter, Allesch, Jürgen, Rauh, Herbert

    Buch Fernleihe Bestellen


    Gespeichert in:

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