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    Structural Decision Diagrams in Digital Test Theory and Applications

    Structural Decision Diagrams in Digital Test Theory and Applications von Ubar, Raimund, Raik, Jaan, Jenihhin, Maksim, Jutman, Artur

    Veröffentlicht 2024

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    VLSI-SoC: system-on-chip in the nanoscale era - design, verification and reliability 24th IFIP WG 10.5/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration, VLSI-SoC 2016, Tallinn, Estonia, September 26-28, 2016 : revised selected papers

    VLSI-SoC: system-on-chip in the nanoscale era - design, verification and reliability 24th IFIP WG 10.5/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration, VLSI-SoC 2016,...

    Veröffentlicht 2017
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    Elektronisch Tagungsbericht E-Book


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    Design and test technology for dependable systems-on-chip

    Design and test technology for dependable systems-on-chip

    Veröffentlicht 2011
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