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    Ballistic electron emission microscopy (beem) studies of metal/semiconductor interfaces with nanometer resolution

    Ballistic electron emission microscopy (beem) studies of metal/semiconductor interfaces with nanometer resolution von Prietsch, Mario

    Veröffentlicht 1995
    Buch Fernleihe Bestellen


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    Photoelektronenspektroskopie an Grenzflächen von Halbleitern mit Seltenerd- und Alkalimetallen

    Photoelektronenspektroskopie an Grenzflächen von Halbleitern mit Seltenerd- und Alkalimetallen von Prietsch, Mario

    Veröffentlicht 1987
    Buch Fernleihe Bestellen


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    Photoelektronenspektroskopie an Grenzflächen von Halbleitern mit Seltenerdund Alkalimetallen

    Photoelektronenspektroskopie an Grenzflächen von Halbleitern mit Seltenerdund Alkalimetallen von Prietsch, Mario

    Veröffentlicht 1987
    Abschlussarbeit Buch Fernleihe Bestellen


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    Photoelektronenspektroskopie an Grenzfächen von Halbleitern mit Seltenerd- und Alkalimetallen

    Photoelektronenspektroskopie an Grenzfächen von Halbleitern mit Seltenerd- und Alkalimetallen von Prietsch, Mario

    Veröffentlicht 1987
    Abschlussarbeit Buch Fernleihe Bestellen


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