Modeling of leakage currents in high-k dielectrics for future DRAM application:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Popescu, Dan Horia (VerfasserIn)
Format: Abschlussarbeit Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: München 2015
Schlagworte:
Online-Zugang:kostenfrei
https://nbn-resolving.org/urn:nbn:de:bvb:91-diss-20151014-1237272-1-8
Beschreibung:xx, 180 Seiten Diagramme

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