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    The characterization of microenvironments and the degradation of archival records a research program

    The characterization of microenvironments and the degradation of archival records a research program von Passaglia, Elio

    Veröffentlicht 1987
    Buch Fernleihe Bestellen


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    Ellipsometry in the measurement of surfaces and thin films symposium held September 5 - 6, 1963, at the National Bureau of Standards, Washington, D.C.

    Ellipsometry in the measurement of surfaces and thin films symposium held September 5 - 6, 1963, at the National Bureau of Standards, Washington, D.C.

    Veröffentlicht 1964
    Weitere Verfasser: “… Passaglia, Elio …”
    Buch Fernleihe Bestellen


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