Fringe pattern analysis for optical metrology: theory, algorithms, and applications
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: Servín, Manuel (VerfasserIn), Quiroga, J. Antonio (VerfasserIn), Padilla, Moisés José (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: Weinheim Wiley-VCH 2014
Schlagworte:
Online-Zugang:Inhaltstext
Inhaltsverzeichnis
Beschreibung:XVI, 327 S. Ill., graph. Darst.
ISBN:3527411526
9783527411528
9783527681075

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