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    Evaluierung verschiedener optischer Schichtdickenmessverfahren im Hinblick auf ihre technische Einsatzfähigkeit für Schichtsysteme der Solarindustrie

    Evaluierung verschiedener optischer Schichtdickenmessverfahren im Hinblick auf ihre technische Einsatzfähigkeit für Schichtsysteme der Solarindustrie by Meiner, Kurt

    Published 2012
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    Evaluierung verschiedener Spektrometerprinzipien für ellipsometrische Messungen im nahen infraroten Spektralbereich

    Evaluierung verschiedener Spektrometerprinzipien für ellipsometrische Messungen im nahen infraroten Spektralbereich by Meiner, Kurt M.

    Published 2008
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