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    Ion beam analysis fundamentals and applications

    Ion beam analysis fundamentals and applications von Nastasi, Michael 1950-, Mayer, James W. 1930-2013, Wang, Yongqiang

    Veröffentlicht 2015
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  2. 2
    Fundamentals of nanoscale film analysis

    Fundamentals of nanoscale film analysis von Alford, Terry L., Feldman, Leonard C., Mayer, James W. 1930-2013

    Veröffentlicht 2007
    Beschreibung
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  3. 3
    The science of paintings

    The science of paintings von Taft, W. Stanley, Mayer, James W. 1930-2013

    Veröffentlicht 2001
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  4. 4
    Fundamentals of surface and thin film analysis

    Fundamentals of surface and thin film analysis von Feldman, Leonard C., Mayer, James W. 1930-2013

    Veröffentlicht 1986
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  5. 5
    Materials analysis by ion channeling submicron crystallography

    Materials analysis by ion channeling submicron crystallography von Feldman, Leonard C., Mayer, James W. 1930-2013, Picraux, S. T.

    Veröffentlicht 1982
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  6. 6
    Ion implantation and synthesis of materials with 10 tables

    Ion implantation and synthesis of materials with 10 tables von Nastasi, Michael 1950-, Mayer, James W. 1930-2013

    Veröffentlicht 2006
    Inhaltsverzeichnis
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  7. 7
    Ion-solid interactions fundamentals and applications

    Ion-solid interactions fundamentals and applications von Nastasi, Michael 1950-, Mayer, James W. 1930-2013, Hirvonen, James K.

    Veröffentlicht 2004
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  8. 8
    Ion solid interactions fundamentals and applications

    Ion solid interactions fundamentals and applications von Nastasi, Michael 1950-, Mayer, James W. 1930-2013, Hirvonen, James K.

    Veröffentlicht 1996
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  9. 9
    Electronic thin film science for electrical engineers and materials scientists

    Electronic thin film science for electrical engineers and materials scientists von Tu, King-Ning, Mayer, James W. 1930-2013, Feldman, Leonard C.

    Veröffentlicht 1992
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    Gespeichert in:
  10. 10
    Fundamentals of surface and thin film analysis

    Fundamentals of surface and thin film analysis von Feldman, Leonard C., Mayer, James W. 1930-2013

    Veröffentlicht 1986
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    Gespeichert in:
  11. 11
    Fundamentals of surface and thin film analysis

    Fundamentals of surface and thin film analysis von Feldman, Leonard C., Mayer, James W. 1930-2013

    Veröffentlicht 1986
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    Gespeichert in:
  12. 12
    Fundamentals of Surface and Thin Film Analysis

    Fundamentals of Surface and Thin Film Analysis von Feldman, Leonard C., Mayer, James W. 1930-2013

    Veröffentlicht 1986
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    Gespeichert in:
  13. 13
    Fundamentals of surface and thin film analysis

    Fundamentals of surface and thin film analysis von Feldman, Leonard C., Mayer, James W. 1930-2013

    Veröffentlicht 1986
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    Gespeichert in:
  14. 14
    Materials analysis by ion channeling submicron crystallography

    Materials analysis by ion channeling submicron crystallography von Feldmann, Leonard C., Mayer, James W. 1930-2013, Picraux, S. T.

    Veröffentlicht 1982
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    Gespeichert in:
  15. 15
    Backscattering spectrometry

    Backscattering spectrometry von Chu, Wei-Kan, Mayer, James W. 1930-2013, Nicolet, Marc-A

    Veröffentlicht 1978
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    Gespeichert in:
  16. 16
    Ion implantation in semiconductors silicon and germanium

    Ion implantation in semiconductors silicon and germanium von Mayer, James W. 1930-2013, Eriksson, Lennart, Davies, John A.

    Veröffentlicht 1970
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    Gespeichert in:
  17. 17
    Ion beam analysis fundamentals and applications

    Ion beam analysis fundamentals and applications von Nastasi, Michael 1950-, Mayer, James W. 1930-2013, Wang, Yongqiang

    Veröffentlicht 2015
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    Gespeichert in:
  18. 18
    Silver metallization stability and reliability

    Silver metallization stability and reliability von Adams, Daniel, Alford, Terry L., Mayer, James W. 1930-2013

    Veröffentlicht 2008
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    Gespeichert in:
  19. 19
    Patterns of light chasing the spectrum from Aristotle to LED's

    Patterns of light chasing the spectrum from Aristotle to LED's von Beeson, Steven, Mayer, James W. 1930-2013

    Veröffentlicht 2008
    Beschreibung
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    Gespeichert in:
  20. 20
    Electronic thin film science for electrical engineers and materials scientists

    Electronic thin film science for electrical engineers and materials scientists von Tu, King-Ning, Mayer, James W. 1930-2013, Feldman, Leonard C.

    Veröffentlicht 1992
    Buch Fernleihe Bestellen


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