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    Technologische Justierung der spektralen Empfindlichkeit von 4H-SiC-UV-Sensoren

    Technologische Justierung der spektralen Empfindlichkeit von 4H-SiC-UV-Sensoren von Matthus, Christian

    Veröffentlicht 2019
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    Abschlussarbeit Elektronisch E-Book Fernleihe Bestellen


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    Highly accurate determination of heterogeneously stacked Van-der-Waals materials by optical microspectroscopy

    Highly accurate determination of heterogeneously stacked Van-der-Waals materials by optical microspectroscopy von Hutzler, Andreas, Fritsch, Birk, Matthus, Christian D., Jank, Michael P. M., Rommel, Mathias

    Veröffentlicht 2020
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