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    Recent Advances in PMOS Negative Bias Temperature Instability Characterization and Modeling of Device Architecture, Material and Process Impact

    Recent Advances in PMOS Negative Bias Temperature Instability Characterization and Modeling of Device Architecture, Material and Process Impact

    Veröffentlicht 2022
    Weitere Verfasser: “… Mahapatra, Souvik …”
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    Fundamentals of bias temperature instability in MOS transistors characterization methods, process and materials impact, DC and AC modeling

    Fundamentals of bias temperature instability in MOS transistors characterization methods, process and materials impact, DC and AC modeling

    Veröffentlicht 2016
    Weitere Verfasser: “… Mahapatra, Souvik …”
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