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    Abscheidung von Siliziumdioxyd-Schichten auf Germanium durch Hydrolyse und Untersuchung der Eigenschaften dieser Schichten

    Abscheidung von Siliziumdioxyd-Schichten auf Germanium durch Hydrolyse und Untersuchung der Eigenschaften dieser Schichten von Fränz, Ilse, Kuisl, Max, Langheinrich, Werner

    Veröffentlicht 1968
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  2. 2
    Eine zerstörungsfreie Methode zur Messung durchsichtiger dünner Schichten zwischen 10 und 600 nm

    Eine zerstörungsfreie Methode zur Messung durchsichtiger dünner Schichten zwischen 10 und 600 nm von Fränz, Ilse, Langheinrich, Werner

    Veröffentlicht 1968
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  3. 3
    Absorptions- und emissionsspektroskopische Untersuchungen innermolekularer Wasserstoffbrücken und prototroper Gleichgewichte

    Absorptions- und emissionsspektroskopische Untersuchungen innermolekularer Wasserstoffbrücken und prototroper Gleichgewichte von Langheinrich, Werner 1934-

    Veröffentlicht 1961
    Abschlussarbeit Buch Fernleihe Bestellen


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  4. 4
    Ein Beitrag zur Frage der künstlichen Auslösung der Laktation beim Rinde durch Cyren-A

    Ein Beitrag zur Frage der künstlichen Auslösung der Laktation beim Rinde durch Cyren-A von Langheinrich, Werner

    Veröffentlicht 1949
    Abschlussarbeit Buch Fernleihe Bestellen


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  5. 5
    Diffusion von Natrium in dünnen Siliziumdioxidschichten, Bor- und Phosphorgläsern

    Diffusion von Natrium in dünnen Siliziumdioxidschichten, Bor- und Phosphorgläsern von Fränz, Ilse, Langheinrich, Werner

    Veröffentlicht 1968
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  6. 6
    Einfluß von Verunreinigungen von Quarz auf die Reinheit geglühter Halbleiteroberflächen

    Einfluß von Verunreinigungen von Quarz auf die Reinheit geglühter Halbleiteroberflächen von Fränz, Ilse, Langheinrich, Werner

    Veröffentlicht 1968
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  7. 7
    Maskierwirkung, Fremdstoffgehalt und Infrarotabsorption verschiedener SiO2-Schichten

    Maskierwirkung, Fremdstoffgehalt und Infrarotabsorption verschiedener SiO2-Schichten von Fränz, Ilse, Langheinrich, Werner

    Veröffentlicht 1968
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  8. 8
    Einfluß von Verunreinigungen von Quarz auf die Reinheit geglühter Halbleiteroberflächen

    Einfluß von Verunreinigungen von Quarz auf die Reinheit geglühter Halbleiteroberflächen von Fränz, Ilse, Langheinrich, Werner

    Veröffentlicht 1968
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  9. 9
    Maskierwirkung, Fremdstoffgehalt und Infrarotabsorption verschiedener SiO2-Schichten

    Maskierwirkung, Fremdstoffgehalt und Infrarotabsorption verschiedener SiO2-Schichten von Fränz, Ilse, Langheinrich, Werner

    Veröffentlicht 1968
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  10. 10
    Abscheidung von Siliziumdioxid-Schichten auf Germanium durch Hydrolyse und Untersuchung der Eigenschaften dieser Schichten

    Abscheidung von Siliziumdioxid-Schichten auf Germanium durch Hydrolyse und Untersuchung der Eigenschaften dieser Schichten von Fränz, Ilse, Kuisl, Max, Langheinrich, Werner

    Veröffentlicht 1968
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  11. 11
    Eine einfache zerstörungsfreie Methode zur Messung durchsichtiger dünner Schichten zwischen 10 und 600 nm

    Eine einfache zerstörungsfreie Methode zur Messung durchsichtiger dünner Schichten zwischen 10 und 600 nm von Fränz, Ilse, Langheinrich, Werner

    Veröffentlicht 1968
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  12. 12
    Abscheidung von Siliziumdioxid-Schichten auf Germanium durch Hydrolyse und Untersuchung der Eigenschaften dieser Schichten

    Abscheidung von Siliziumdioxid-Schichten auf Germanium durch Hydrolyse und Untersuchung der Eigenschaften dieser Schichten von Fränz, Ilse, Kuisl, Max, Langheinrich, Werner

    Veröffentlicht 1968
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  13. 13
    Diffusion von Natrium in dünnen Siliziumdioxidschichten, Bor- und Phosphorgläsern

    Diffusion von Natrium in dünnen Siliziumdioxidschichten, Bor- und Phosphorgläsern von Fränz, Ilse, Langheinrich, Werner

    Veröffentlicht 1968
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    Eine einfache zerstörungsfreie Methode zur Messung durchsichtiger dünner Schichten zwischen 10 und 600 nm

    Eine einfache zerstörungsfreie Methode zur Messung durchsichtiger dünner Schichten zwischen 10 und 600 nm von Fränz, Ilse, Langheinrich, Werner

    Veröffentlicht 1968
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