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    Lock-in thermography basics and use for functional diagnostics of electronic components

    Lock-in thermography basics and use for functional diagnostics of electronic components von Breitenstein, Otwin, Langenkamp, Martin

    Veröffentlicht 2003
    Inhaltsverzeichnis
    Buch Fernleihe Bestellen


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    Kapazitätsspektroskopie ausgedehnter Defekte in plastisch verformtem Silizium

    Kapazitätsspektroskopie ausgedehnter Defekte in plastisch verformtem Silizium von Langenkamp, Martin

    Veröffentlicht 1995
    Inhaltsverzeichnis
    Buch Fernleihe Bestellen


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    Lock-in thermography basics and use for evaluating electronic devices and materials

    Lock-in thermography basics and use for evaluating electronic devices and materials von Breitenstein, Otwin, Warta, Wilhelm, Langenkamp, Martin

    Veröffentlicht 2010
    Inhaltsverzeichnis
    Buch Fernleihe Bestellen


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    Lock-in thermography basics and use for evaluating electronic devices and materials

    Lock-in thermography basics and use for evaluating electronic devices and materials von Breitenstein, Otwin, Warta, Wilhelm, Langenkamp, Martin

    Veröffentlicht 2010
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    Elektronisch E-Book Fernleihe Bestellen


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    Lock-in Thermography Basics and Use for Functional Diagnostics of Electronic Components

    Lock-in Thermography Basics and Use for Functional Diagnostics of Electronic Components von Breitenstein, Otwin, Langenkamp, Martin

    Veröffentlicht 2003
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