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    Kristallfehler in hochintegrierten Schaltkreisen aus Siliziumnitrid

    Kristallfehler in hochintegrierten Schaltkreisen aus Siliziumnitrid von Kolbesen, Bernd O., Mayer, Kurt R.

    Veröffentlicht 1979
    Buch Fernleihe Bestellen


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    Kristallfehler in hochintegrierten Schaltkreisen aus Siliziumnitrid

    Kristallfehler in hochintegrierten Schaltkreisen aus Siliziumnitrid von Kolbesen, Bernd O., Mayer, Kurt R.

    Veröffentlicht 1979
    Buch Fernleihe Bestellen


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    Analytical Techniques for Semiconductor Materials and Process Characterization Proceedings of the Satellite Symposium to ESSDERC 89 Berlin

    Analytical Techniques for Semiconductor Materials and Process Characterization Proceedings of the Satellite Symposium to ESSDERC 89 Berlin

    Veröffentlicht 1990
    Weitere Verfasser: “… Kolbesen, Bernd O. …”
    Tagungsbericht Buch Fernleihe Bestellen


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