VLSI-SoC: design for reliability, security, and low power: 23rd IFIP WG 10.5/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration, VLSI-SoC 2015, Daejeon, Korea, October 5-7, 2015 : revised selected papers
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Körperschaft: IFIP/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration Daejon (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Shin, Youngsoo (HerausgeberIn), Tsui, Chi Ying (HerausgeberIn), Kim, Jae-Joon (HerausgeberIn), Choi, Ki-Young (HerausgeberIn), Reis, Ricardo (HerausgeberIn)
Format: Elektronisch Tagungsbericht E-Book
Sprache:English
Veröffentlicht: [Cham] Springer [2016]
Schriftenreihe:IFIP Advances in Information and Communication Technology 483
Schlagworte:
Online-Zugang:BTU01
FHA01
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UBR01
UBT01
UBW01
UER01
UPA01
Volltext
Beschreibung:1 Online-Ressource (XIII, 223 Seiten, 121 illus)
ISBN:9783319460970
ISSN:1868-4238
DOI:10.1007/978-3-319-46097-0

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