EMF risk assessment: exposure assessment and compliance testing in complex environments
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Kühn, Sven 1979- (VerfasserIn)
Format: Abschlussarbeit Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: Konstanz Hartung-Gorre 2010
Ausgabe:1. ed.
Schriftenreihe:Series in microelectronics 205
Schlagworte:
Online-Zugang:Kurzbeschreibung
Inhaltsverzeichnis
Beschreibung:XXIII, 240 S. Ill., graph. Darst.
ISBN:9783866283091
3866283091

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