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Ein neues Verfahren zur Linienprofilanalyse an Röntgenweitwinkelreflexen von Polymeren von Häberle, Klaus-Dieter
Veröffentlicht 1992Signatur: Wird geladen …
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Herstellung und Eigenschaften kathodisch aufgestäubter SiO2- und SiO2-polySi-Schichten für die MOS-Technologie von Haberle, Klaus
Veröffentlicht 1978Signatur: Wird geladen …
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Herstellung und Eigenschaften kathodisch aufgestäubter SiO2- und SiO2-polySi-Schichten für die MOS-Technologie von Haberle, Klaus
Veröffentlicht 1978Signatur: Wird geladen …
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Herstellung und Eigenschaften kathodisch aufgestäubter SiO2 - und SiO2 - polySi-Schichten für die MOS-Technologie von Haberle, Klaus
Veröffentlicht 1978Signatur: Wird geladen …
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