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Test, Inbetriebnahme und Weiterentwicklung von Silizium-Pixel-Detektoren von Hörnel, Nicolas 1970-
Veröffentlicht 1995Signatur: Wird geladen …
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Physikalische Ursachen und Wirkung von Rauschquellen in Sperrschicht-Feldeffekttransistoren von Hörnel, Nicolas 1970-
Veröffentlicht 2001Signatur: Wird geladen …Volltext öffnen
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Physikalische Ursachen und Wirkung von Rauschquellen in Sperrschicht-Feldeffekttransistoren von Hörnel, Nicolas 1970-
Veröffentlicht 2001Signatur: Wird geladen …Inhaltsverzeichnis
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Physikalische Ursachen und Wirkung von Rauschquellen in Sperrschicht-Feldeffekttransistoren von Hörnel, Nicolas 1970-
Veröffentlicht 2001Signatur: Wird geladen …
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